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全自动椭偏检测机台
薄膜材料的膜厚、光学常数以及一维、二维纳米光栅的结构表征;工业领域新型光电器件行业所涉及的薄膜(配向膜、光刻胶、ITO、发光薄膜、封装薄膜)全片离线化快速扫描测量。 产品型号全自动椭偏检测机台主要特点
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光谱椭偏仪
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光谱椭偏仪
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光谱椭偏仪
,快速实现玻璃盖板上多层薄膜物性表征分析。光谱椭偏仪SE-Glass 广泛应用于玻璃基底山减反膜、调光膜、导电膜等薄膜的膜厚,光学常数测量,完美适用于玻璃盖板、光学薄膜等镀膜检测应用。 产品简介
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光谱椭偏仪
超高性价比、快速测量光谱椭偏仪,紧凑集成设计,使用简便,可一键快速测量表征各式光学薄膜膜厚以及光学常数等信息。高性价比光学椭偏测量解决方案,紧凑集成化设计,极致用户操作体验,一键快速测量分析,人机交互
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光谱椭偏仪
膜厚、光学常数以及膜厚分布快速测量与表征。 产品简介:SE-Mapping光谱椭偏仪是一款可定制化Mapping绘制化测量光谱椭偏仪,采用行业前沿创新技术,配置全自动Mapping测量模块,通过椭
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光谱椭偏仪
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Sentech 全自动光谱椭偏仪SENDURO
产地属性欧洲价格范围80万-100万 SENDURO 全自动光谱椭偏仪包括基于测量处方的仅在几秒钟内即可完成的快速数据分析。 SENDURO 全自动光谱椭偏仪,SENDURO 全自动光谱
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HORIBA Auto SE一键式全自动快速椭偏仪
椭偏仪类型及优势分析4. 测量、数据分析时的常见问题概要Auto SE是一种新型的按键式全自动薄膜测量分析工具,仅需简单的几个按键操作,即可完成全自动测量和分析。仅几秒钟即可完成样品分析,并提供完整的
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光伏椭偏仪
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